老化，也稱為老練（burn in），按MIL-STD-883的定義，去篩選優(yōu)秀器件，剔除勉強合格的器件。這些器件的缺點可能是材質的固有缺陷，或者工藝不精。
在當時可能看不出來，但隨著時間流逝，缺點會爆發(fā)出來，所以老化篩選是必要的，篩選時用最大額度工作條件之上進行測試，或者施加能以相等的或更高的靈敏度揭示出隨時間和應力變化的失效模式的等效篩選條件。
為了避免早期失效，老化這種篩選測試是必要的，老化前的產品早期失效率高，進入隨機失效的時間更加短暫。
但除了內部結構制程工藝復雜的
光模塊激光器，其他的光電器件（除了APD），不需要進行老化。
現(xiàn)在行業(yè)內最常見的針對激光器的burn in篩選測試分為兩種。
一是激光器管芯級，在生產完成時，裝載到專用的老化夾具上進行，市場上有專業(yè)的商業(yè)化設備提供，國外廠家有ILX Lightwave，國內廠家上海菲來。
根據不同的測試方案，可以區(qū)分為在線測試老化和分立測試老化。
在線測試老化全程記錄BI過程中的激光器數據，成本高昂，一般用于樣品測試。而分立只在老化開始結束測試，成本低廉，所以用于批量化生產。
二是
光模塊級，在激光器組裝到光模塊內部時，通過測試夾具進行，沒有商用化設備，只能廠商自研，測試方案也是在線和分立，但成本無太大差異。
從生產管控成本角度上看，第一種測試效果更好，第二種測試最多是一的補充。
芯片老化的目的是篩選出早期失效的芯片，確定該批次中所有失效芯片篩選完成有三種辦法。
一，直接售賣，從售后反饋中，觀察失效數量，如果有峰值，那就是老化有效性差，而如果一段時間后穩(wěn)定，那則是有效性好。
二，進行加速壽命測試，例如高溫工作運行，看壽命測試前期是否有產品失效。
三，將老化篩選后的該批次產品再進行老化測試，關注是否有產品失效，這種方法比第二種要效率高。
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